В сканерах DUERR NDT применена уникальная патентованная технология считывания информации с запоминающей пластины на основе параболического зеркала (Photon Collecting System), за счет чего достигается двух-трехкратное увеличение отношения сигнал/шум, если сравнивать с наиболее распространенными барабанными сканерами.
Для пользователей систем имеется возможность программного изменения режимов считывания пластин: напряжение на ФЭУ, размер пикселя и мощность лазера – оптимальный подбор параметров позволяет устанавливать наилучшие параметры сканирования и получать отличные результаты для различных условий экспонирования пластин. По запросу клиента и под его задачи мы можем поставлять системы компьютерной радиографии с несколькими предустановленными режимами считывания пластин.
Также в сканерах DUERR HD-CR 35 NDTPlus нового поколения применена запатентованная технология TreFoc . Новая уникальная технология фокусировки лазера TreFoc позволяет настраивать размер лазерного пятна. Внутри лазерной трубки находится высокоточный механизм ирисовой диафрагмы. Сдвигая или раздвигая лепестки диафрагмы, механизм изменяет диаметр лазерного луча. Пользователю предлагается 3 предустановленных размера лазерного пятна 12,5, 25 и 50 мкм:
- 12,5 мкм – ирисовая диафрагма полностью закрыта
Наиболее подходит при использовании запоминающих пластин высокого разрешения.
Наилучший выбор для решения задач НК в авиационной, космической и атомной промышленностях.
Отличные результаты для контроля сварных швов.
Высокое отношение Сигнал/Шум при базовом пространственном разрешении 40 мкм
- 25 мкм – ирисовая диафрагма открыта наполовину
Улучшенное значение соотношение Сигнал/Шум
Оптимально подходит для запоминающих пластин среднего разрешения.
Лучшее решение для контроля литья.
- 50 мкм – ирисовая диафрагма полностью открыта
Высокое соотношение Сигнал/Шум для областей со стандартным разрешением
Оптимально подходит для запоминающих пластин стандартного разрешения
Наилучший выбор для контроля изотопными источниками
Малый размер файлов изображения
Высокая скорость считывания
Малое время экспонирования
Технические характеристики
Пространственное разрешение сканера: 25-100 мкм (5-20 пар линий/мм).
Минимальный размер пикселя (определяется диаметром лазерного пятна): 12,5 мкм.
Размеры сканируемых пластин: максимальная ширина – 35 см, длина ограничена размерами получаемых файлов изображений и (в меньшей степени) мощностью компьютера.
Стандартный размеры пластин: 10х24 см, 10х40 см; 10х48 см; 30х40 см и др.; возможно изготовление пластин в размер заказчика с шириной до35 см.
Время сканирования: 0,5-3 мин (зависит от режима считывания и размера пластин).
Размеры сканера: 40х37х47 см.
Вес: 17,5 кг (без кейсов для хранения и транспортировки)
Параметры электропитания:
переменное напряжение – 100-240В, 50-60 Гц;
потребляемая мощность – 140 Вт.
Диапазон рабочих температур: +10 ? +35°С, относительная влажность 80 %.
Сканер подключается к компьютеру через интерфейс Ethernet.
Сканер имеет сенсорный дисплей высокого разрешения, через который возможно управление всеми функциями сканера без подключения его к ПК.
Сканер имеет возможность сохранения изображений на карте SD объемом до 32 Гб. Все изображения могут быть безопасно сохранены в автономном режиме (без ПК).
С помощью стандартного интерфейса беспроводной связи (WiFi) сканер может соединиться с компьютером.
Сканер и компьютер упакованы в картонные коробки.
Программное обеспечение
Программное обеспечение работает под 64-битной версией WINDOWS 8 и позволяет управлять сканером при считывании пластин, а также производить обработку полученных изображений на компьютере.
Основные возможности программного обеспечения:
Ввод изображений в компьютер с разрядностью 16 бит (65535 уровней серого).
Фильтрация и улучшение изображений, их архивирование, экспорт в основные распространенные форматы: JPEG, TIFF, BMP.
Ведение протокола (сохраняется последовательность действий оператора CR-системы).
Встроенные средства автоматической калибровки по сканируемой пластине или ручная калибровка по эталону, что позволяет оценивать размеры дефектов с высокой точностью.
Встроенные алгоритмы автоматизированного поиска дефектов с возможностью настройки пороговых значений.
Ведение баз данных результатов контроля с привязкой к персоналу, объектам контроля, параметрам экспозиции, примененному оборудованию и т.п.
Выдача отчетов и заключений в соответствии с ведомственными нормативными документами (ГАЗПРОМ, ТРАНСНЕФТЬ и др.)
Комплекс цифровой радиографии DUERR HD-CR 35 NDT Plus
В сканерах DUERR NDT применена уникальная патентованная технология считывания информации с запоминающей пластины на основе параболического зеркала (Photon Collecting System), за счет чего достигается двух-трехкратное увеличение отношения сигнал/шум, если сравнивать с наиболее распространенными барабанными сканерами.
Для пользователей систем имеется возможность программного изменения режимов считывания пластин: напряжение на ФЭУ, размер пикселя и мощность лазера – оптимальный подбор параметров позволяет устанавливать наилучшие параметры сканирования и получать отличные результаты для различных условий экспонирования пластин. По запросу клиента и под его задачи мы можем поставлять системы компьютерной радиографии с несколькими предустановленными режимами считывания пластин.
Также в сканерах DUERR HD-CR 35 NDTPlus нового поколения применена запатентованная технология TreFoc . Новая уникальная технология фокусировки лазера TreFoc позволяет настраивать размер лазерного пятна. Внутри лазерной трубки находится высокоточный механизм ирисовой диафрагмы. Сдвигая или раздвигая лепестки диафрагмы, механизм изменяет диаметр лазерного луча. Пользователю предлагается 3 предустановленных размера лазерного пятна 12,5, 25 и 50 мкм:
- 12,5 мкм – ирисовая диафрагма полностью закрыта
Наиболее подходит при использовании запоминающих пластин высокого разрешения.
Наилучший выбор для решения задач НК в авиационной, космической и атомной промышленностях.
Отличные результаты для контроля сварных швов.
Высокое отношение Сигнал/Шум при базовом пространственном разрешении 40 мкм
- 25 мкм – ирисовая диафрагма открыта наполовину
Улучшенное значение соотношение Сигнал/Шум
Оптимально подходит для запоминающих пластин среднего разрешения.
Лучшее решение для контроля литья.
- 50 мкм – ирисовая диафрагма полностью открыта
Высокое соотношение Сигнал/Шум для областей со стандартным разрешением
Оптимально подходит для запоминающих пластин стандартного разрешения
Наилучший выбор для контроля изотопными источниками