Санкт-Петербург, Гражданский пр., д. 111
Пн. - Пт. с 10-00 до 18-00
+7 (911) 918-69-46
+7 (965) 081-34-49
info@nord-ndt.ru

Комплекс цифровой радиографии DUERR HD-CR 35 NDT Plus

  • /images/all/24/1532/big/img_13.jpg

    1

Цена: по запросу
-
  
+

Производитель:
Страна:
Гарантия:
Версия для печати


В сканерах DUERR NDT применена уникальная патентованная технология считывания информации с запоминающей пластины на основе параболического зеркала (Photon Collecting System), за счет чего достигается двух-трехкратное увеличение отношения сигнал/шум, если сравнивать с наиболее распространенными барабанными сканерами.

Для пользователей систем имеется возможность программного изменения режимов считывания пластин: напряжение на ФЭУ, размер пикселя и мощность лазера – оптимальный подбор параметров  позволяет устанавливать наилучшие параметры сканирования и получать отличные результаты для различных условий экспонирования пластин. По запросу клиента и под его задачи мы можем поставлять системы компьютерной радиографии с  несколькими предустановленными режимами считывания пластин.

Также в сканерах DUERR HD-CR 35 NDTPlus нового поколения применена запатентованная технология TreFoc .  Новая уникальная технология фокусировки лазера TreFoc позволяет настраивать размер лазерного пятна. Внутри лазерной трубки находится высокоточный механизм ирисовой диафрагмы. Сдвигая или раздвигая лепестки диафрагмы, механизм изменяет диаметр лазерного луча. Пользователю предлагается 3 предустановленных размера лазерного пятна 12,5, 25 и 50 мкм:

- 12,5 мкм – ирисовая  диафрагма  полностью  закрыта

Наиболее подходит при использовании запоминающих пластин высокого разрешения.

Наилучший выбор для решения задач НК в авиационной, космической и атомной промышленностях.

Отличные результаты для контроля сварных швов.

Высокое отношение Сигнал/Шум при базовом пространственном разрешении 40 мкм

- 25 мкм – ирисовая  диафрагма  открыта  наполовину

Улучшенное значение соотношение Сигнал/Шум

Оптимально подходит для запоминающих пластин среднего разрешения.

Лучшее решение для контроля литья.

- 50 мкм – ирисовая  диафрагма  полностью  открыта

Высокое соотношение Сигнал/Шум для областей со стандартным разрешением

Оптимально подходит для запоминающих пластин стандартного разрешения

Наилучший выбор для контроля изотопными источниками

Малый размер файлов изображения

Высокая скорость считывания

Малое время экспонирования

 



Назад

Комплекс цифровой радиографии DUERR HD-CR 35 NDT Plus

В сканерах DUERR NDT применена уникальная патентованная технология считывания информации с запоминающей пластины на основе параболического зеркала (Photon Collecting System), за счет чего достигается двух-трехкратное увеличение отношения сигнал/шум, если сравнивать с наиболее распространенными барабанными сканерами.

Для пользователей систем имеется возможность программного изменения режимов считывания пластин: напряжение на ФЭУ, размер пикселя и мощность лазера – оптимальный подбор параметров  позволяет устанавливать наилучшие параметры сканирования и получать отличные результаты для различных условий экспонирования пластин. По запросу клиента и под его задачи мы можем поставлять системы компьютерной радиографии с  несколькими предустановленными режимами считывания пластин.

Также в сканерах DUERR HD-CR 35 NDTPlus нового поколения применена запатентованная технология TreFoc .  Новая уникальная технология фокусировки лазера TreFoc позволяет настраивать размер лазерного пятна. Внутри лазерной трубки находится высокоточный механизм ирисовой диафрагмы. Сдвигая или раздвигая лепестки диафрагмы, механизм изменяет диаметр лазерного луча. Пользователю предлагается 3 предустановленных размера лазерного пятна 12,5, 25 и 50 мкм:

- 12,5 мкм – ирисовая  диафрагма  полностью  закрыта

Наиболее подходит при использовании запоминающих пластин высокого разрешения.

Наилучший выбор для решения задач НК в авиационной, космической и атомной промышленностях.

Отличные результаты для контроля сварных швов.

Высокое отношение Сигнал/Шум при базовом пространственном разрешении 40 мкм

- 25 мкм – ирисовая  диафрагма  открыта  наполовину

Улучшенное значение соотношение Сигнал/Шум

Оптимально подходит для запоминающих пластин среднего разрешения.

Лучшее решение для контроля литья.

- 50 мкм – ирисовая  диафрагма  полностью  открыта

Высокое соотношение Сигнал/Шум для областей со стандартным разрешением

Оптимально подходит для запоминающих пластин стандартного разрешения

Наилучший выбор для контроля изотопными источниками

Малый размер файлов изображения

Высокая скорость считывания

Малое время экспонирования

 

0 RUB {zenka}